設(shè)計光電傳感器的電磁兼容
1光干擾的抑制
光電傳感器以光為媒介進(jìn)行無接觸檢測。光是一種頻率很高的電磁波 。光干擾也算是一種電磁干擾,光干擾是傳感器誤動作的主要因素之一。環(huán)境光、背景光和周圍其它光電傳感器發(fā)出的光是光干擾源。以紅外線為媒介進(jìn)行檢測則可減小可見光的影響,紅外光也不影響可見光。紅外線光電傳感器可用濾光鏡濾去可見光。對于周圍環(huán)境其它光電傳感器的光干擾, 可用外殼、套筒、夾縫來抑制 。圖1 是一種受光器結(jié)構(gòu)圖。
受光器結(jié)構(gòu)圖
投光器外殼結(jié)構(gòu)設(shè)計得當(dāng),可使發(fā)出的光成為規(guī)則光束,而非散射狀,使用時又安裝得當(dāng),則投光器難成為光干擾源。傳感器設(shè)計時,采用偏振光及高頻調(diào)制的脈沖光,采用同步檢波方式,都有利于抑制光干擾。
2電路板電磁兼容
光電傳感器通過高頻調(diào)制產(chǎn)生高頻電信號。在高頻下,一根導(dǎo)線等效為一個電感。因此,須盡可能縮短傳感器內(nèi)高頻線的長度。印制板跡線設(shè)計時要考慮盡可能減小電磁輻射。跡線輻射比集成電路輻射要強(qiáng)。跡線如構(gòu)成如圖2 所示的大小相等、方向相反的電流環(huán)路,則會向空間輻射磁場,也會接受空間的磁場。
跡線輻射
圖中i 為環(huán)路電流。設(shè)環(huán)路面積為S ,電信號頻率為f ,測量天線到輻射平面的距離為d ,測量天線與印制板平面的夾角為θ,則測得電場強(qiáng)度為
電場強(qiáng)度
此時為差模輻射。可通過減小環(huán)路面積S 和環(huán)路電流i 來減小差模輻射。共模輻射可用對地電壓激勵的、長度小于1/ 4 波長的短單極天線來模擬。共模輻射的電場強(qiáng)度為
共模輻射的電場強(qiáng)度
式中l(wèi)為短單極天線長度, 共模電壓轉(zhuǎn)換成了差模電流i 。減小地電壓和將差模電流旁路到地可減小共模輻射。
總的來說,印制板跡線長度宜短,宜增加寬度,但不宜突然增寬,不宜突然拐彎。盡可能增大地線面積以減小地線阻抗。高頻信號線、電源線應(yīng)盡可能平行地靠近地線。傳感器應(yīng)選用低功耗器件,如CMOS 集成電路。CMOS 器件抗干擾能力強(qiáng),CMOS 邏輯電路抗擾度高達(dá)20 %。低功耗器件發(fā)熱小,這有利于傳感器設(shè)計得更緊密,有利于傳感器穩(wěn)定工作。
設(shè)計光電傳感器的電磁兼容
3輸出電路電磁兼容
輸出電路是傳感器的末級電路,一般是無觸點(diǎn)開關(guān)電路。常用輸出元件有三極管和晶閘管。三極管狀態(tài)改變時,引起電磁輻射。在三極管集電極與發(fā)射極之間并接RC 吸收電路,用電感L 來抑制d i/ d t , 就可減小電磁輻射的能量[4 ] ,如圖3 所示。
三極管
輸出電路電磁兼容設(shè)計的另一種方法是屏蔽。圖4 中,晶閘管被屏蔽,LC 濾波網(wǎng)絡(luò)用來抑制晶閘管動作時產(chǎn)生的浪涌。濾波網(wǎng)絡(luò)與屏蔽罩均接地。
晶閘管
4抗干擾編碼
現(xiàn)在,通信、接口、總線技術(shù)的發(fā)展也促使二進(jìn)制傳感器的智能化。AS-Interface 是一個執(zhí)行器-傳感器- 接口總線系統(tǒng)。AS-Interface 總線系統(tǒng)最多可安裝248 個二進(jìn)制傳感器。AS-Interface 芯片與光電傳感器配合,可使傳感器與AS-Interface 總線相連。同一總線上,多個傳感器相互干擾的問題比較嚴(yán)重。這可在傳感器通信時,在信息中加入監(jiān)督碼元(冗余碼) 進(jìn)行抗干擾。如用00000 、11111 代替0 、1 。當(dāng)收到10111 ,那可認(rèn)為錯了一位,并自動糾正第二位。
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